日本產業(yè)技術綜合研究所（AIST）6月15日宣布，開發(fā)出了新的試驗方法，可以將結晶硅型太陽能電池板（模塊）在高溫高濕環(huán)境下的加速試驗速度提高70倍以上。這是產綜研光伏發(fā)電研究中心模塊可靠性小組的成果。

研究判明，結晶硅型太陽能電池模塊長時間暴露于高溫高濕環(huán)境下時，因封裝材料水解產生的醋酸會腐蝕印刷在太陽能電池單元（發(fā)電元件）上的指狀銀電極，導致電極與硅界面的電阻升高。

因此，作為確認指狀銀電極可靠性的加速試驗方法，此前一直是將電池單元制成模塊，在溫度85℃、相對濕度85％的環(huán)境下進行3000～5000小時的高溫高壓試驗的。

產綜研稱，將太陽能電池單元直接暴露于醋酸蒸汽中，則很短時間內就可看到與在高溫高壓環(huán)境下模塊上所觀測到的相同現(xiàn)象。劣化現(xiàn)象的發(fā)生速度約為在模塊上實施試驗的原方法的70倍。

將這種現(xiàn)象應用于加速試驗，就能以70倍以上的速度容易地確認太陽能電池單元電極的可靠性了。